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• 杭州维勘科技股份有限公司

  光纤端面3D干涉仪： WKFI-M光纤端面干涉仪是杭州维勘科技自主研发的一款高性能低价格的手动对焦、非接触式光纤端面干涉仪。它能够准确快速地测量出光纤连接器端面的曲率半径（ROC），顶点偏移（Apexoffset），光纤高度（FiberHeight）及APC光纤连接器的研磨角度和键度误差；同时以三维彩图的方式展现光纤连接器的表面状况。 WKFI-1光纤端面干涉仪主要分为干涉仪主机和专用测量软件两个部分。 测试速度 0.8秒完成测试，1.6秒显示3D图像 曲率半径（mm） 测量范围：3~∞ 重复性：±0.005 复现性： ±0.01 光纤高度（nm） 测量范围：-150~150 重复性：±0.2 复现性： ±0.5 顶点偏移（μm） 测量范围：0~500 重复性：±0.3 复现性： ±0.07 APC角度（deg） 测量范围：7~9 重复性：±0.01 复现性： ±0.02 APC键度误差（deg） 测量范围：±1 重复性：±0.01 复现性： ±0.02 高抗震能力 仪器硬件刚性，软件相关的算法，能有保证在一定程度的震动中保持测量精度