正电子湮没寿命谱仪

ORTEC PLS-System正电子湮没寿命谱仪是近几十年发展的核技术研究的新方法，它反映正电子所在处电子密度或电子动量分布的信息，具有对原子尺度缺陷十分敏感的特点。实验设备比较简单，样品制备容易，并为非破坏性测量。金属和合金的淬火、形变等引起的空位、位错等缺陷；金属和合金的形变、相变、氢脆等相关的问题；巨磁阻材料、超导材料等缺陷机理研究。

ORTEC PLS-System正电子湮没寿命谱仪技术参数

    ◆时间分辨率：保证值：≤ 200ps；典型值：≤ 180ps（用50μCi 60Co源测量）

    ◆起始路：

        a) 905-21-S, BC418塑料闪烁体探测器（12.9 cm3截锥体），8850PMT，265-S  PMT；

        b) 556高压电源，提供2000伏副高压；

        c) 583B    定比甄别器，下限1050keV, 上限1150 keV，定比延迟35.5cm；

        d) DB463定比延时。
    ◆终止路：

        a) 905-21-S, BC418塑料闪烁体探测器（12.9 cm3截锥体），含8850PMT，265-S  PMT；

        b) 556高压电源，提供2000伏副高压；

        c) 583B定比甄别器，下限900keV, 上限1000 keV，定比延迟35.5cm 。
    ◆符合单元： 414A，时间分辨率20ns。
    ◆时幅转换单元：567，100 ns范围内每道12.5 ps。
    ◆数据获取：TRUMP-PCI-8K，最高8192道，MAESTRO-32仿真软件。