电镀膜厚仪(测厚仪)优价出售

电镀膜厚仪(测厚仪)是针对高要求用户设计的，能够测量极精密的样品，如：微形部件或线路板上极微细的表面结构，它的新颖专利X－射线光学镜片，创新的X-射线光学原理，使这部仪器能产生非常小，但高辐射强度的测量点，所以，测量数十微米的面积的结构也变成可能。

电镀膜厚仪(测厚仪)的样品室
－样品室结构  开槽式样品室  开闭式样品室 
－最大样品台尺寸  360*380*240 
－XY轴程控移动范围  标准：152.4 x 177.8mm 还有5种规格任选  300mm x 300mm 
－Z轴程控移动高度  80mm  XYZ程控时，152.4mm XY轴手动时，269.2mm 
－XYZ三轴控制方式  多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制

电镀膜厚仪(测厚仪)可变焦距控制功能和固定焦距控制功能 
计算机系统配置  戴尔计算机
分析应用软件  操作系统：Windows XP中文平台 分析软件包：SmartLink FP软件包 
－测厚范围  可测定厚度范围：取决于您的具体应用。 
－基本分析功能  采用基本参数法校正。将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。 
样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量) 
可检测元素范围：CL17 – U92 

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