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Phasics公司Kaleo光学传递函数测量仪
Phasics公司Kaleo光学传递函数测量仪
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Phasics公司Kaleo光学传递函数测量仪

产品报价:询价

更新时间:2020/2/17 19:59:11

地:广东

牌:Phasics

号:Kaleo

厂商性质: 生产型,贸易型,

公司名称: 深圳维尔克斯光电有限公司

产品关键词: Kaleo MTF   光学传递函数测量仪   传函测量   Kaleo MTF 测试平台   MTF测试仪  

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刘经理 : (13691916712) (0755-84870203)

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         法国 Phasics公司提供Kaleo光学传递函数测量仪,其能提供最完整的透镜特性测试方案,包括离轴MTF和宽波长的波前误差测试。这个系列的MTF测试仪可用于镜头测试,光学表面测试。Kaleo IR 红外透镜的质量控制及测试系统,提供多个红外波长的测试方案。Kaleo MTF for R&D测试仪对于研发的特点是多个波长下进行自动离轴MTF以及波前误差测试。Kaleo i是一款人工晶状体质量控制测试仪。

Kaleo IR波前传感器产品介绍:

该产品使得红外透镜的质量控制非常简单。Kaleo IR MTF可以在所有频率下单次拍摄而无需扫描或复杂对准。 该单次采集还提供了所有波前像差。Kaleo红外工作台可作为NIR,SWIR,MWIR或LWIR区域中任何波长组的具有成本效益的红外干涉仪。

 

Phasics公司Kaleo光学传递函数测量仪MTF测试仪可测参数:

-MTF函数

-波前误差和像差

-多波长测试

 

Phasics公司Kaleo光学传递函数测量仪Kaleo MTF for R&D镜头测试平台介绍:

Kaleo MTF工作台可在多个波长下执行自动离轴MTF和波前误差测量。 它还通过聚焦MTF,畸变,EFL等方式来测量像差(泽尼克系数)。依据镜头的出瞳参数,精确计算并测量透镜的离轴参数。 该工作台利用Phasics提供的最完整的质量控制技术,具有易用性和多功能性。

 

Phasics公司Kaleo光学传递函数测量仪Kaleo MTF for R&D镜头测试平台特点

-400至1100nm的6个波长

-在不同的方位角的测试

 

Kaleo-I传函测量仪介绍:

仪器是专为屈光人工晶状体(球面,非球面,复曲面或双焦点)的质量控制而设计的。由于采用高分辨率的波前传感器,它可以实现快速而可靠的测量。在生产中,它提供了ISO11979标准所要求的功率和MTF,包括模型眼。对于研发而言,它还提供了许多额外的结果,例如通过焦点的MTF和球差的像差。

 

镜头质量控制平台Kaleo-I的特点:

-符合ISO 11979-2标准的电源和MTF上通过/失败显示

-单个镜头和批次自动报告

-专用试管和模型眼

-快速的计算机辅助对准(仅对中)

 

Kaleo光学传递函数测量仪产品介绍:

Phasics可提供最完整的透镜特性测试方案:离轴MTF和多种波长的波前误差。得益于Phasics专利技术,即使在大视野(FoV)时也可以提供准确的结果。Kaleo MTF测试仪非常适合测量少量物镜。操作员或研发工程师可以使用它来验证设计和原型阶段。 光学传递函数测量仪可通过一次采集即可提供完整的测试参数输出。

市场:汽车行业| ADAS | 监视和安全| 无人机| 移动电话


Phasics Kaleo MTF 测试平台的特点:

-单次测量,MTF测量高达截止频率,精度类似于干涉测量法

-高品质的准直光源,经济有效的解决方案

-无需重新校准离轴测量,自动对焦,易于校准和多种应用

-几种不同的波长(默认为RGB + IR),在几个方位角处测量

-全自动测量过程

 

Phasics MTF光学传递函数测量仪可测的参数

-轴上和轴外MTF,通过焦点MTF

-传输的波前错误,Zernike多项式

-镜头参数:EFL,F#,OPD在镜头出口瞳孔

-散光,图像失真,场曲率

-相对照度曲线

 

法国Phasics 镜头测试系统的具体参数:

参数

参数值

光学设置

有限到无限配置

波长范围

400-1100 nm / 900-1700 nm / 3-5μm / 8-14μm

入瞳直径

Up to 8.8 mm

F#

> 1.8 mm

Flange焦距

8 to 30 mm

焦距范围

5 to 500 mm

视场角

Up to ±120°

MTF on-axis

准确性 <1%* - 重复性 <0.5%*

MTF off-axis

准确性 <2%** -重复性 <1%**

MTF 精确度

LWIR ±0.02 / MWIR ±0.03 / SWIR ±0.01 / Visible ±0.02

MTF 重复性

LWIR & MWIR ±0.015 SWIR & Visible ±0.01

失真

准确性 <0.5% - 重复性 <0.05%

场曲率

准确性 <5μm - 重复性 <1μm

OPD(光程差)轴上

准确性 20 nm RMS -重复性<5 nm RMS

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 


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