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Radiant Premier II铁电材料测试系统
Radiant Premier II铁电材料测试系统
  • Radiant Premier II铁电材料测试系统

Radiant Premier II铁电材料测试系统

产品报价:询价

更新时间:2019/2/11 14:05:45

地:美国

牌:Radiant

号: Premier II

厂商性质: 贸易型,服务型,

公司名称: 杭州雷迈科技有限公司

产品关键词: 铁电材料测试系统   Premier II   铁电分析仪   铁电分析仪   Radiant  

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蒋新浩 : (13336187598) (0571-82733525)

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Radiant Premier II铁电材料测试系统


Radiant Premier II.jpg

Radiant Premier II铁电材料测试系统是一台先进的测试仪,它综合了频率响应、电压范围和精度于一体。系统配有一个快速的迟滞额定频率250kHz+ / - 10v, 使得薄膜和散装陶瓷的测试变得快速和简单。

 

Premier II无需改变测试样品的连接,即可实现滞回,脉冲,漏电,ICIV的测试。配备额外的模块,可实现热释电性能、磁电特性、晶体管特性、低温性能、块体陶瓷和/或薄膜压电性能的测试。

 

Precision Premier II有±10v30V100伏,200伏和500 V内置驱动电压选项可供选择,并可通过增加一个高压接口和放大器以扩展到10千伏,配备可视化的数据采集和管理软件。

 

Radiant Premier II.jpg


Radiant Premier II铁电材料测试系统技术参数:

Tester Parameter

Premier

Voltage Range (built-in   drive voltage)

±10V, ±30V, ±100V, ±200V or   ±500V built-in可选

Voltage Range with an   external amplifier and high voltage interface (HVI)

10KV

Number of ADC Bits

18

Minimum Charge Resolution

0.80fC

Minimum Area Resolution   (assuming 1 ADC bit = 1μC/cm2)

0.080μ2

Maximum Charge Resolution

5.26mC

Maximum Area Resolution   (assuming saturation polarization = 100μC/cm2)

52.6cm2

Maximum Charge Resolution   with High Voltage Interface (HVI)

526mC

Maximum Area Resolution   (assuming saturation polarization = 100μC/cm2) w/o HVI

>100cm2

Maximum Hysteresis Frequency

250KHz @ 10V

 

50KHz @ 30V

 

50KHz @ 100V

 

50KHz @ 200V

 

2KHz @ 500V

Minimum Hysteresis Frequency

0.03Hz

Minimum Pulse Width

0.5μs

Minimum Pulse Rise Time (5V)

400ns

Maximum Pulse Width

1s

Maximum Delay between Pulses

40ks

Internal Clock

25ns

Minimum Leakage Current   (assuming max current integration period = 1 seconds)

1pA

Maximum Small Signal Cap   Frequency

1MHz

Minimum Small Signal Cap   Frequency

1Hz

Output Rise Time Control

105 scaling

Input Capacitance

-6fF

Electrometer Input All Test   Frequencies for all test at any speed

Yes

* The minimum area   resolution under actual test conditions depends upon the internal noise   environment of the tester, the external noise environment, and the test jig   parasitic capacitance.

*** Tester specifications   are subject to change without notice.



杭州雷迈科技有限公司

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