来宝网Logo

热门词:生物显微镜 水质分析仪 微波消解 荧光定量PCR 电化学工作站 生物安全柜

AED
现在位置首页>行业专用>行业专用仪器/仪表>专用仪器>MIS-CA1804T/MIS-CA1303T东光高岳半导体用光掩模缺陷检查装置 衡鹏供应
MIS-CA1804T/MIS-CA1303T东光高岳半导体用光掩模缺陷检查装置 衡鹏供应
MIS-CA1804T/MIS-CA1303T东光高岳半导体用光掩模缺陷检查装置 衡鹏供应
  • MIS-CA1804T/MIS-CA1303T东光高岳半导体用光掩模缺陷检查装置 衡鹏供应

MIS-CA1804T/MIS-CA1303T东光高岳半导体用光掩模缺陷检查装置 衡鹏供应

产品报价:询价

更新时间:2018/8/29 15:06:11

地:日本

牌:东光高岳

号:MIS-CA1804T

厂商性质: 贸易型,服务型,

公司名称: 上海衡鹏实业有限公司

产品关键词: 东光高岳   半导体用光掩模缺陷检查装置   MIS-CA1303T   MIS-CA1804T  

682
访问人数
0
累计评论


陈静静 : (13901841523) (021-52231552)

(联系我时,请说明是在来宝网上看到的,谢谢!)


MIS-CA1804T/MIS-CA1303T东光高岳半导体用光掩模缺陷检查装置 衡鹏供应



TAKAOKA TOKO东光高岳MIS-CA1804T/MIS-CA1303T半导体用光掩模缺陷检查装置特点:

·高速,高感度Die-DB检查

·可以很灵敏的检测出CD缺陷

·可以离线回放检查

(如果需要在离线回放检查时同时进行处理,需要另外追加 PC设备)

·可以进行Die和DB检查领域的混合检查(选配项)

   Allowed combination inspection of Die-DB and Die-Die

·可以对应MIS-CA1804T / 180nm设计规则

  (最小检出缺陷尺寸:250nm)

·可以对应MIS-CA1303T / 130nm设计规则

  (最小检出缺陷尺寸:180nm)






TAKAOKA TOKO东光高岳MIS-CA1804T/MIS-CA1303T半导体用光掩模缺陷检查装置相关产品:

衡鹏供应

TAKAOKA TOKO东光高岳 RVI-S8010 FC-CSP基板凸点检查装置

TAKAOKA TOKO东光高岳 WVI-5020拼板基板凸点检查装置