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超声波扫描测试 超声波测试 C-SAM扫描分析
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  • 超声波扫描测试 超声波测试 C-SAM扫描分析

超声波扫描测试 超声波测试 C-SAM扫描分析

产品报价:1元

更新时间:2019/2/18 9:47:03

地:广东

牌:赛特检测

号:不限

厂商性质: 服务型,

公司名称: 深圳市赛特检测有限公司

产品关键词: C-SAM扫描   C-SAM分析   C-SAM超声波扫描检测服务   超声波测试   超声波扫描  

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张工 : (18565638010) (18565638010)

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超声波扫描测试丨超声波测试丨C-SAM扫描分析


项目介绍

超声波显微镜 (SAT)是Scanning Acoustic Tomography 的简称,又称为C-SAM (C-mode Scanning Acoustic Microscope)。此检测为应用超声波与不同密度材料的反射速率及能量不同的特性来进行分析。 利用纯水当介质传输超声波信号,当讯号遇到不同材料的界面时会部分反射及穿透,此种发射回波强度会因为材料密度不同而有所差异,扫描声学显微镜就是利用此特性,来检验材料内部的缺陷并依所接收的信号变化将之成像。


Sam利用声波对于不同介质反射或者透射强度的不同来进行测试。C-SAM是c型反射,可以用来扫描某一层的性状,其分析如下:一般情况下如果聚焦的2层之间区域是黑色的说明这相交面一直到器件表面某处有空洞;如果是红色的,就代表在所检测的那层相交面上是有空洞的。颜色是根据其特有color map来判断,从正波到负波颜色变化为白色一红色,可以通过图片左侧颜色条看出来。白色代表遇到从密度小的物质进入密度很大的物质,红色正好相反,黑色代表遇到空气或者真空,声波没有反射或者透射过去,导致接收声波的探头没有接收到信号。T-scan就是through scall.是检测体内,也就是从上表面到下表面所有层面的检测。根据color map,如果发现黑色区域就代表包含区域的垂直体内含有空洞。

 超声波扫描测试丨超声波测试丨C-SAM扫描分析 

   检测目的 

无损检测电子元器件、LED、金属基板的分层、裂纹等缺陷(裂纹、分层、空洞等);通过图像对比度判别材料内部声阻抗差异、确定缺陷形状和尺寸、确定缺陷方位。

 

   应用范围

塑料封装IC、晶片、PCB、LED

 

   测试步骤

确认样品类型→选择频率探头→放置测量装置中→选择扫描模式→扫描图像→缺陷分析


送样需知

a)需要液体进行超声波传输,可能给样品带来损害技术参数

b)很难检测出表面很粗糙或者内部有很多气泡的样品

 

   依据标准

IPC/JEDEC J-STD-035 ,

IPC/JEDEC J-STD-020, 

MIL-STD 883G, 

GJB 548B

应用领域及分析案例
非破坏性、无损伤检测内部结构,可分层扫描、多层扫描,实施、直观的图像及分析,缺陷的测量及百分比的计算,可显示材料内部的三维图像,对人体是没有伤害的,可检测各种缺陷(裂纹、分层、夹杂物、附着物、空洞、孔洞、晶界边界等) 晶元面处脱层,锡球、晶元、或填胶中之裂缝,晶元倾斜,各种可能之孔洞(晶元接合面、锡球、填胶…等), 覆晶构装之分析。

超声波扫描测试丨超声波测试丨C-SAM扫描分析

STT赛特检测中心严格按照CNAS认可委的要求建设实验室,并依据ISO/IEC17025:2006进行实验室管理,遵循“公正、科学、准确、高效”的准则,依照IEC、ISO、IEEE、MIL、ASTM、J-STD、GJB、GB、SJ等国际、国内标准,为企业提供专业检测技术服务。


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