SJ-400/SJ-411/412表面粗糙度测量仪简单介绍

SJ-400/SJ-411/412表面粗糙度测量仪简单介绍

SJ-400/SJ-411/412表面粗糙度测量仪表面粗糙度测量仪配备有符合最新ISO,DIN,ANSI,和JIS标准的36种粗糙度评价参数。一个宽范围、高分辨率的检测器和一个直接驱动元件，提供了在同类产品中更优越的高精度测量。范围／分辨率:800μm/0.000125μm(8μm测量范围)

SJ-400/SJ-411/412表面粗糙度测量仪

的详细介绍

SJ-400/SJ-411/412表面粗糙度测量仪
标准配备有强力支持无轨测量时水平调整作业DAT (Digital Advanced Tilting) 功能的上下倾斜装置。 
DAT (Digital Advanced Tilting) 功能，可先进行预先测量，从其测量结果来计算测量面的倾斜度。 
任何人都可以简单地进行水平调整，既能减轻人为误差还可提高作业效率。 

SJ-411表面粗糙度仪- 详细参数

标准配备有强力支持无轨测量时水平调整作业DAT (Digital Advanced Tilting) 功能的上下倾斜装置。

DAT (Digital Advanced Tilting) 功能，可先进行预先测量，从其测量结果来计算测量面的倾斜度。

任何人都可以简单地进行水平调整，既能减轻人为误差还可提高作业效率。

SJ-400/SJ-411/412表面粗糙度测量仪用途

球面或圆柱面的表面粗糙度是无法直接测量的，但除去圆形状成分进行补正即可进行表面粗糙度评价。

除了圆形外，还可以对应抛物线、圆锥形、倾斜等表面的测量。

SJ-400/SJ-411/412表面粗糙度测量仪性能参数

大范围高分辨率检出器

■检出器

测量范围/ 最小分辨率:

800μm/0.01μm

80μm/0.001μm

8μm/0.0001μm

高精度直线驱动部

■驱动部

直线度/ 驱动长度:

0.3μm/25mm (SJ-411)

0.5μm/50mm (SJ-412)

无轨检测器和弧形表面补偿功能使它能有效地评价圆柱体表面粗糙度。特细的阶差，直线度、波度均可用无轨测量功能测出。

测量数据可通过RS-232C接口电缆(选件)由外部PC输出。带有粗糙度标准板。

由数字滤波功能可得到全真的表面粗糙度轮廓图。 GO/NG判断功能。自动校正功能。 

SJ-400/SJ-411/412表面粗糙度测量仪技术参数 
X轴(驱动部)
测量范围:25mm(SJ-401),50mm(SJ-402)
测量速度:0.05,0.1,0.5,1.0mm/s
返回速度:0.5,1.0,2.0mm/s
移动方向:向后 
直线度:0.3μm/25mm(SJ-401),
0.5μm/50mm(SJ-402)
定位:±1.5°(倾角),10mm(向上／向下)
检测器 
范围／分辨率:800μm/0.01μm,80μm/0.001μm,
8μm/0.0001μm(使用测头选件时， 
最大可达2400μm)
检测方法:无轨／有轨测量 
测力:4mN或0.75mN(低测力型)
测针针尖:金刚石、90o/5μmR
(60o/2μmR:低测力型)
导头曲率半径:40mm
检测方法:差动电感式 
电源:通过AC适配器／可充电镍氢电池 
电池寿命:最多可测量600次(不带打印)
充电时间:15个小时 
数据输出通过RS-232C端口／SPC输出 
尺寸(WxDxH)
控制器:307x165x94mm
高度-倾角调整装置:131x63x99mm
驱动部:128x36x47mm(SJ-401),
155x36x47mm(SJ-402)
重量 
控制器:大约1.2kg
高度-倾角调整装置:大约0.4kg
驱动部:0.6kg(SJ-401),0.7kg(SJ-402)

评估能力 
评估轮廓:
P(主轮廓),R(表面粗糙度轮廓),W(滤波波度轮廓),
DIN4776、粗糙度motif、波形motif
评估参数:
Ra,Ry,Rz,Rq,Pc,R3z,mr,Rt,Rp,Rv,Sm,S,?c,Rk,Rpk,Rvk,Mr1,
Mr2,A1,A2,Lo,Ppi,R,AR,Rx,Da,Dq,Ku,HSC,mrd,Sk,W,AW,
Wte,Wx,Vo
分析图表:
支撑曲线(BAC1/2)、振幅分布曲线(ADC)
滤波类型2CR,PC75,高斯 
截止波长0.08,0.25,0.8,2.5,8mm
取样数:X1,X3,X5,XL
任意长度(XL):0.1-25mm(0.1-50mm:SJ-402),
0.1mm增量 
取样长度(L):0.08,0.25,0.8,2.5,8mm
打印机热敏打印机 
打印宽度48mm(纸宽:58mm)
纪录倍率 
垂直:20X-100,000X、自动 
水平:1X-1,000X、自动 
功能 客户化:显示／评价参数的选择 
数据补偿:R表面、倾斜补偿 
标尺功能:
显示任意两点间的坐标差 
数字调整工作台功能： 
无轨测量时、协助调水平 
移动检测模式 
驱动部停止时输入测头移动 
统计过程:最大值、最小值、均值、标准差、合格率、 
直方图 
公差判断:可确定三个参数的上、下极值。 
测量条件储存:5组测量条件(控制单元

测量凹凸面的粗糙度 
球面或圆柱面(R表面)的粗糙度通常无法评价，但以滤波器去除半径之后，R表面数据就可像平面测量那样加以处理。

GO/NG指示 
测量后，显示GO/NG。判断结果为NG时会突出显示。

统计数据 
对一个粗糙度参数进行多重测量，在此基础上，可进行统计(平均值,标准偏差,最大／最小值、合格率以及直方图)。

评估能力:SURFPAK-SJ
达到业界标准:ISO4287:1997,ANSI/ASMEB46.1-1995,JIS
B06011994等 
评估轮廓:P(主轮廓)、R(表面粗糙度轮廓),WC,WCA,WE
WEADIN4776轮廓、E(包络残余线)、粗糙度motif、波 
形motif
评估参数:Ra,Rq,Rz,Rz(JIS),Ry,Ry(DIN),Rc,Rpi,Rp,RpmaxRvi,
Rv,Rvmax,Rti,Rt,R3zi,R3z,R3y,S,Pc(Ppi),Sm,HSC,mr,?c,
plateauratio,mrd,Rk,Rpk,Rvk,Mr1,Mr2,?a,?q,?a,?q,Sk,
Ku,Lo,Lr,A1,A2
Rx,RAR,SR,SAR,NR,NCRX,CPM
Wte,Wx,W,AW,SW,SAW,NW
分析图表:ADC,BAC1,BAC2、功率谱图、自相关图、Walsh
功率谱图、Walsh自相关图、倾斜分布图、局部峰值 
分布图、参数分布图 
滤波类型:2CR-75%,2CR-50%,2CR-75%(相位校正),2CR-
50%(相位校正),高斯-50%(相位校正)
截止波长:
?c:0.025,0.08,0.25,0.8,2.5,8,25mm或任意值 
fl:0.25,0.8,2.5,8mm或任意值 
fh:0.25,0.8,2.5,8mm或任意值 
取样长度(L):
0.025,0.08,0.25,0.8,2.5,8,25mm或任意值 
数据补偿:倾斜补偿、R平面(曲面)补偿、椭圆补偿、 
抛物线补偿、双曲线补偿、自动锥面补偿、多项式补 
偿、多项式自动补偿 
数据的删除 
删除越出测量范围所得数据，以避免越界误差。 
删除指定范围的数据，以进行重新计算。 
自动删除数据。 
纪录倍率 
垂直:100X-500,000X、水平:1X-10,000X生成报告的特殊功能 
位图图像粘贴功能 
数据图表的多种排布 
必备RS-232C电缆