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日立扫描电子显微镜SU9000(SEM)
日立扫描电子显微镜SU9000(SEM)
  • 日立扫描电子显微镜SU9000(SEM)

日立扫描电子显微镜SU9000(SEM)

产品报价:询价

更新时间:2024/3/25 13:55:49

地:日本

牌:日立

号:SU9000

厂商性质: 贸易型,服务型,

公司名称: 上海铸金分析仪器有限公司

产品关键词: 日立   扫描电子显微镜   SU9000(SEM)   日立   扫描电子显微镜   SU9000(SEM)  

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杨敏 : (13391253866) (021-36400739)

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日立扫描电子显微镜SU9000(SEM)

日立扫描电子显微镜SU9000(SEM)简介:

日立扫描电子显微镜SU9000(SEM)是日立公司2011年推出的超高分辨冷场发射扫描电镜,达到当时扫描电镜世界Z高二次电子分辨率0.4nm和STEM分辨率0.34nm。

日立SU9000采取了新改进的真空系统和电子光学系统,不仅分辨率性能明显提升,而且作为一款冷场发射扫描电镜甚至不需要传统意义上的Flashing操作,可以高效率的快速获取样品超高分辨扫描电镜图像。
日立扫描电子显微镜SU9000(SEM)的特点:
1. 新型电子光学系统设计达到扫描电镜分辨率:二次电子0.4nm(30KV),STEM 0.34nm(30KV)。
2. Hitachi专利设计的E×B系统,可以自由控制SE和BSE检测信号。
3. 全新真空技术设计使得SU9000冷场发射电子束具有超稳定和高亮度特点。
4. 全新物镜设计显著提高低加速电压条件下的图像分辨率。
5. STEM的明场像能够调整信号检测角度,明场像、暗场像和二次电子图像可以同时显示并拍摄照片。
6. 与FIB兼容的侧插样品杆提高更换样品效率和高倍率图像观察效率。

日立扫描电子显微镜SU9000(SEM)的技术参数:


 项目

 技术指标

二次电子分辨率

0.4nm (加速电压30kV,放大倍率80万倍)

1.2nm (加速电压1kV,放大倍率25万倍)

STEM分辨率

0.34nm(加速电压30kV,晶格象)

观测倍率

底片输出

显示器输出

LM模式

80~10,000x

220~25,000x

HM模式

800~3,000,000x

2,200~8,000,000x

样品台

侧插式样品杆

样品移动行程

X

±4.0mm

Y

±2.0mm

Z

±0.3mm

T

±40度

标准样品台

平面样品台:5.0mm×9.5mm×3.5mmH

截面样品台:2.0mm×6.0mm×5.0mmH

专用样品台

截面样品台:2.0mm×12.0mm×6.0mmH

双倾截面样品台:0.8mm×8.5mm×3.5mmH

信号检测器

二次电子探测器

TOP 探测器(选配)

BF/DF 双STEM探测器(选配)