反康普顿谱仪

系统配置:
N型高纯锗探测器
低本底垂直冷指，30升杜瓦
9*9英寸NaI反康环探测器
3*3英寸NaI反康塞探测器
专用反康铅室
NIM电子学组成的反符合线路，连接电缆
数字化多道谱仪
操作及分析软件
计算机与打印机

峰康比：>1000：1（反康模式下）
积分总本底（40keV至2MeV）：<0.5cps（正常外部环境下）
采用GMX60探测器

ORTEC反康普顿谱仪结合了性能优良的高纯锗探测器和稳定可靠的核电子学系统，能最大程度地抑制康普顿效应，降低探测下限。

低本底高纯锗反康普顿伽玛谱仪主要有以下部分构成：HPGe主探测器、NaI环形探测器与NaI塞子探测器共同构成的反符合屏蔽探测器、铅屏蔽室、电子学反符合线路、多道分析器、谱分析软件。计算机和打印机等。

当高能辐射（例如初级宇宙射线）贯穿主探测器与反符合屏蔽探测器，两个探测器都有信号输出时，后面的反符合电子学线路就会使这些信号不被谱仪记录，从而起到抑制或屏蔽本底信号的作用。

同样，当被测样品放出的γ射线入射到主探测器，其中发生康普顿效应的光子将产生非全能峰信号，而同时，其将同时被散射而进入到反符合屏蔽探测器而产生信号，后面的反符合电子学线路就会使这些信号不被谱仪记录，从而起到抑制康普顿效应、提高峰康比的作用。

评价低本底反康普顿谱仪的主要技术指标有积分本底、康普顿抑制系数（定义为在康普顿反符合前后主探测器所测得的同一核素两个γ谱图中康普顿连续谱面积之比）、反康条件下的系统峰康比和最低检出限等。