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商品编号:45024
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NanoMap500WLS非接触式轮廓仪(三维形貌仪)

价    格:询价

产    地:美国更新时间:2019/7/15 13:41:34

品    牌:AEP Technology型    号:NanoMap500WLS

状    态:正常点击量:2829

18013892749
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南京冉锐科技有限公司

联 系 人:吴先生

电     话:4006607350

传     真:025-83210072

等     级: (第 11年)

性     质:生产型,贸易型,

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 提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图软件可以采集、分析、处理和可视化数据。表面统计的计算包括峰值和谷值分析。基于傅立叶变换的空间过滤工具使得高通、低通、通频带和带阻能滤波器变的容易。多项式配置、数据配置、扫描、屏蔽和插值。交互缩放。X-Y和线段剖面。三维线路、混合和固定绘图。用于阶越高度测量的地区差异绘图。

主要功能:
◆微观二维(2D)和三维(3D)形貌轮廓获取
◆多种测量功能
将采样数据运算后,可获得精确定量的面积(空隙率,缺陷密度,磨损轮廓截面积等)、体积(孔深,点蚀,图案化表面,材料表面磨损体积以及球状和环状工件表面磨损体积等)、台阶高度、线与面粗糙度,透明膜厚、薄膜曲率半径以及其它几何参数等测量数据。

产品参数

提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图软件可以采集、分析、处理和可视化数据。表面统计的计算包括峰值和谷值分析。基于傅立叶变换的空间过滤工具使得高通、低通、通频带和带阻能滤波器变的容易。多项式配置、数据配置、扫描、屏蔽和插值。交互缩放。X-Y和线段剖面。三维线路、混合和固定绘图。用于阶越高度测量的地区差异绘图。

主要功能:
◆微观二维(2D)和三维(3D)形貌轮廓获取
◆多种测量功能
将采样数据运算后,可获得精确定量的面积(空隙率,缺陷密度,磨损轮廓截面积等)、体积(孔深,点蚀,图案化表面,材料表面磨损体积以及球状和环状工件表面磨损体积等)、台阶高度、线与面粗糙度,透明膜厚、薄膜曲率半径以及其它几何参数等测量数据。

产品介绍

美国AEP Technology公司主要从事半导体生产检测设备, MEMS生产检测设备, 光学生产检测设备的生产制造,是表面测量解决方案行业的领先供应者,专门致力于材料表面形貌测量与检测。该公司生产的NanoMap500WLS非接触三维表面形貌仪,基于白光干涉测量法,是目前功能极强的全新表面三维轮廓仪,具有很高的精密度和准确度,既用来获得样品表面垂直分辨率高达0.05nm的三维形态和形貌,又可以定量地测量表面粗糙度及关键尺寸,诸如晶粒、膜厚、孔洞深度、长宽、线粗糙度、面粗糙度等,并计算关键部位的面积和体积等参数。所有测量都是非破坏性和快速的,样件无须专门处理,在高速扫描状态下测量轮廓范围可以从0.1nm 到10mm。由于采用独特的缝合技术,无论怎样的表面形态、粗糙程度以及样品尺寸,一组m×n图像可以被缝合放大任何倍率,在高分辨率下创造一个大的视场,并获得所有的被测参数。NanoMap500WLS非接触三维表面形貌仪的应用领域覆盖了薄膜/涂层、工业轧钢和铝、纸、聚合物、生物材料、陶瓷、磁介质和半导体等几乎所有的材料领域。



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