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商品编号:45023
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NanoMap500LS接触式轮廓仪(三维形貌仪)

价    格:询价

产    地:美国更新时间:2019/7/15 13:41:34

品    牌:AEP Technology型    号:NanoMap500LS

状    态:正常点击量:2080

18013892749
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南京冉锐科技有限公司

联 系 人:吴先生

电     话:4006607350

传     真:025-83210072

等     级: (第 11年)

性     质:生产型,贸易型,

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特点
l         常规的接触式轮廓仪和扫描探针显微镜技术的完美结合
l         双模式操作(针尖扫描和样品台扫描),即使在长程测量时也可以得到最优化的小区域三维测图
l         针尖扫描采用精确的压电陶瓷驱动扫描模式,三维扫描范围从10μm X 10μm 到500μm X 500μm。样品台扫描使用高级别光学参考平台能使长程扫描范围到50mm。
l         在扫描过程中结合彩色光学照相机可对样品直接观察
l         针尖扫描采用双光学传感器,同时拥有宽阔测量动态范围(最大至500μm)及亚纳米级垂直分辨率 (最小0.1nm )
l         软件设置恒定微力接触
l         简单的2步关键操作,友好的软件操作界面

产品参数

应用

三维表面轮廓测量和粗糙度测量,即适用于精密抛光的光学表面也可适用于质地粗糙的机加工零件。
薄膜和厚膜的台阶高度测量
划痕形貌,磨损深度、宽度和体积定量测量
空间分析和表面纹理表征
平面度和曲率测量
二维薄膜应力测量
微电子表面分析和MEMS表征
表面质量和缺陷检测
 
环境要求
湿度:10-80%, 相对湿度,无冷凝
温度:65-85 华氏度(△T<1度/小时)
电源要求:90/240V,50/60 Hz

产品介绍

应用

三维表面轮廓测量和粗糙度测量,即适用于精密抛光的光学表面也可适用于质地粗糙的机加工零件。
薄膜和厚膜的台阶高度测量
划痕形貌,磨损深度、宽度和体积定量测量
空间分析和表面纹理表征
平面度和曲率测量
二维薄膜应力测量
微电子表面分析和MEMS表征
表面质量和缺陷检测
 
环境要求
湿度:10-80%, 相对湿度,无冷凝
温度:65-85 华氏度(△T<1度/小时)
电源要求:90/240V,50/60 Hz


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