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瑞士NanoSensors原子力显微镜探针/针尖 AFM probes
瑞士NanoSensors原子力显微镜探针/针尖 AFM probes
价 格:询价
产 地:瑞士更新时间:2021/9/10 14:45:14
品 牌:NanoSensors型 号:
状 态:正常点击量:4140
联 系 人:原子力显微镜探针
电 话:010-68458526
传 真:010-68470073
等 级: (第 15年)
性 质:生产型,贸易型,服务型,
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PPP-NCHR
轻敲模式/非接触模式探针,每个基片有一个长方形悬臂,共振频率330kHz,弹性系数42N/m,针尖曲率半径<10nm,背面镀铝反射层。
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PPP-CONTR
接触模式探针,每个基片有一个长方形悬臂,共振频率13kHz,弹性系数0.2N/m,针尖曲率半径<10nm,背面镀铝反射层。
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PPP-MFMR
用于磁力显微镜测量,每个基片有一个长方形悬臂,共振频率75kHz,弹性系数2.8N/m,针尖曲率半径<50nm,针尖镀硬磁性材料镀层。
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NanoSensors产品概览
PointProbe Plus (PPP)系列 常用探针
PointProbe Plus系列探针为NanoSensors的最被广泛使用的探针,适用于大部分的应用及商品化的AFM。
PointProbe Plus系列探针的针尖典型曲率半径为小于7nm,可实现高分辨率的应用。整个系列保证了高品质及高稳定性。
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SuperSharp Silicon (SSS)系列 超尖探针
SuperSharp Silicon系列探针使用特别的针尖制作技术生产,专门为超高分辨的成像所设计。
SuperSharp Silicon系列探针的针尖典型曲率半径为小于2nm,实现超高分辨率的应用。整个系列保证了高品质及高稳定性。
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High Aspect Ratio Probes (AR5/AR5T/AR10/AR10T)系列
高长径比探针
AR系列探针专门为测量具有大长径比或垂直台阶结构的样品而设计。
AR系列探针具有接近垂直的针尖,总体针尖长度达到10-15um,针尖的曲率半径小于5度(AR10小于2.8度)。
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Diamond Coated PointProbe Plus (DT/CDT)系列 金刚石镀层探针
DT(金刚石)和CDT(导电金刚石)系列探针适用于针尖与样品之间需要大接触力的情况,同样也应用于摩擦力测量、样品弹性测量等。
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MFM 磁力显微镜探针
多种规格(硬磁或软磁)的磁力显微镜探针专门为不同的材料及应用而设计。所有探针的磁性镀层,均具有优越的稳定性。
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Carbon Nanotube (CNT)系列 碳纳米管探针
Carbon Nanotube探针是专门为需要超高分辨率、高速扫描及弱探针-样品作用力的应用而设计的。
碳纳米管探针使用化学沉积的方法,在PPP系列针尖的最尖端处,生长出碳纳米管,从而具有最小的针尖曲率半径、超高的长径比及极佳的耐磨性。CNT系列在NanoSensors的全部探针中,能获得最高的分辨率。
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AdvancedTEC (ATEC)系列
AdvancedTEC系列探针,在悬臂的最边缘处具有四面体形状的针尖。这种独有的技术使得ATEC系列探针成为世界上唯一可以从上方观察到针尖的探针,从而使得用户可以获得精确的针尖-样品定位。
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Plateau (PL)系列
Plateau系列探针,使用离子束切割技术,将传统锥形的针尖弄钝,在针尖处形成一个直径为1.8μm的圆形平台,为用户的特殊应用提供了个性化的探针。
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Transfer Standards /Calibration Standards 标准样品
NanoSensors提供的高精度标准样品包括:
1. 二维正交标准样品:周期分别为100nm、200nm和300nm。
2. 高度标准样品:台阶高度为8nm。
3. 粗糙度标准样品:100um以内的峰峰值小于10nm。