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商品编号:49986
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LA-S型植物年轮分析系统

价    格:询价

产    地:浙江更新时间:2019/7/15 13:41:34

品    牌:万深型    号:LA-S型

状    态:正常点击量:1545

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杭州万深检测科技有限公司

联 系 人:沈虹

电     话:0571-89714590

传     真:0571-81387570

等     级: (第 11年)

性     质:生产型,

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LA-S植物年轮分析系统,至少具备以下功能:

1.植物年轮测量分析:

1)可自动判读年轮数

2)各年轮平均宽度

3)早材及晚材宽度

4)各年轮切向角度和面积

5)可自动划分出年轮边界、早材边界、晚材边界,以及识别出很窄的树轮

6)可交互删除伪年轮、插入断年轮,可自动生成国际上通行的分析年表。分析获得的测量数据具备进一步做交叉定年、数据分析处理能力

7)具有年轮图线数据【暂存】【加载】特性,以便日后不断地分析比对。具有【精细】分析的“软件体视镜”特性。有路径端点【吸附】定位特性,对不满意的分析路径还可断开、删除、增加与编辑,以及可将分析结果图线保存。图线上调整角度具有跟随特性,画路径的时候可【取消】(右键菜单点【取消】或直接按【Del删除】键)

8)可直接分析最大达到2万万像素(2亿像素)的超高精度扫描的超大幅面年轮图像(能分析在3200dpi分辨率下,成像分析430mm×30mm区域的年轮灰度图像(A3扫描仪),精度远高于目前常用的1600dpi分辨率)。具有对年轮宽度<0.2mm的极精细年轮的自动分析能力。

9) 可保存或读取TIFFBMPPNGJPEG标准格式的图像

2. 人工辅助修正:图像可放大缩小和局部观察,可实现鼠标区域选择统计。

3自动杂质剔除:根据尺寸等方面的区别,进行自动杂质剔除。

4.辅助测量功能:

尺寸标定:自带标定功能,实现半自动的尺寸标定,XY向可分别标定修正;

长度测量:具有跟随放大镜功能,通过鼠标拖动精确测量;

5.数据报表导出:分析结果能导出到Excel表,以便存档和统计。还可输出分析标记图,以便发表论文用。

 


产品参数

标配光学分辨率4800×9600A4加长的Microtek ScanMaker i800双光源彩色扫描仪,最大分析测量面积:反射稿为A4加长幅面(35.6 cm×21.6 cm),扫描根面积30 cm×20 cm可分辨的最小尺寸0.008 ×0.008 mm。植物图像分析测量精度(由扫描仪决定,可软件部分校正):X向≤±0.5 %Y向≤±0.25%;长度测量重现性误差<±0.25%;面积测量重现性误差<±0.25%;台间测量差异<±0.25%测量总时间:30~60秒。用户需另配计算机。

若需大幅面分析,请选配:光学分辨率1600×3200dpiA3Microtek Phantom 9800XL扫描仪

最新产品资料、图像、实战操作视频可从http://www.wseen.com的网站下载。

 

 




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