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法国PHASICS高分辨率波前传感器SID4
法国PHASICS高分辨率波前传感器SID4
价 格：询价
产 地：法国更新时间：2021/9/10 14:45:14
品 牌：Phasics菲兹克斯型 号：SID4
状 态：正常点击量：1466
联 系 人：李飘
电 话：13524357605
传 真：021-34679726
等 级： (第 6年)
性 质：贸易型,
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法国PHASICS高分辨率波前传感器SID4
产品特色：
产品参数
法国PHASICS高分辨率波前传感器SID4
技术规格：
型 号： | SID4 GE | 通 光 孔 径： | 4.8 × 3.6 mm2 |
工作波长： | 400-1100nm | 空间分辨率： | 29.6 μm |
采 样 点： | 160 × 120 | 数 据 接 口： | 千兆以太网 |
精 度： | 10 nm RMS | 灵 敏 度： | <2 nm RMS |
采样频率： | 60 fps | 处 理 频 率： | >10 fps (高分辨率) |
尺 寸： | 54 × 46 × 75.3mm | 重 量： | ~250g |
产品介绍
法国PHASICS高分辨率波前传感器SID4
法国PHASICS公司专注于研究高分辨率波前传感器，其产品基于一种独特的专利技术——四波横向剪切干涉法（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。该技术克服了传统哈特曼的限制，具有超高分辨率、高灵敏度和大动态范围等特性，为客户实现全方位测量、分析和成像提供了有利的解决方案。这种创新技术给激光工程师、透镜制造商和细胞生物学家带来了福音。
工作原理：
入射波前通过衍射光栅后取样，入射光束经衍射光栅后分成完全相同的四列波，波沿着稍微不同的方向传播。方向偏差产生干涉图样，该系统中产生正弦曲线条纹。当光束中有像差时，干扰栅格被扭曲。通过光谱傅立叶变换提取2个正交方向的相位梯度。相位图最终通过这些梯度合成获得。
主要应用：
激光束质量分析
自适应光学
激光光学测试
光学元件表面测量
生物成像
热成像，等离子体表面物理
