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韩国Micro Pioneer XRF-2000H X射线荧光分析仪
韩国Micro Pioneer XRF-2000H X射线荧光分析仪
价 格：询价
产 地：韩国更新时间：2021/9/10 14:45:14
品 牌：Micro Pioneer型 号：XRF-2000H
状 态：正常点击量：2589
联 系 人：丁成峰
电 话：021-69005726
传 真：021-61732104
等 级： (第 17年)
性 质：生产型,
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韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列X-射线金属镀层测厚仪器
XRF-2000H 型号 测量大工件适用，较XRF-2000L机箱尺寸变大
产品参数
韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列X-射线金属镀层测厚仪器
型号：type H
主机箱尺寸：610W x 670D x 600H
可测量样品大小： 550W x 550D x 100H
XYZ三轴可移动范围： 200W x 150D x 100H
最大负重： 5kg
产品介绍
韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列X-射线金属镀层测厚仪器
能提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱超值，同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果，甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的首选。可测量各类金属层、合金层厚度等。
可测元素范围：钛(Ti) – 铀(U) 原子序 22 – 92 。
准直器：固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
电脑系统：DELL品牌电脑,17寸液晶显示器，惠普彩色打印机
综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析 统计功能
