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商品编号:53836
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美国麦奇克Microtrac纳米Zeta电位分析仪Zetatrac

价    格:询价

产    地:美国更新时间:2019/7/15 13:41:34

品    牌:Microtrac型    号:Zetatrac

状    态:正常点击量:2648

15665882320
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济南济威生物技术有限公司

联 系 人:张经理

电     话:0531-81307925

传     真:

等     级: (第 1年)

性     质:生产型,

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创新点
1. 最新动态光背散射技术,引入能谱概念,180°检测异相多普勒频率变化,稳定性好,重现性高,实为传统光子相关光谱方法的最佳替代品。
2. 专利膜电极设计,准确测量颗粒电泳速度
3. 先进的“Y型”光纤光路系统,精确聚焦蓝宝石测量窗口,有效消除杂散光对检测器的负面影响。无需比色皿,毛细管电泳池或外加电极池,测量同一体系的Zeta电位,避免样品交叉污染与浓度变化。
4. 专利的异相多谱勒频移(Heterodyne Doppler Frequency Shifts)技术,较之传统的光子相关光谱分析方法,获得颗粒散射光信号的强度高出几个数量级,提高分析结果的可靠性
5. 专利的可控参比方法(CRM,Controlled Reference Method),能精细分析多谱勒频移产生的能谱,确保分析的灵敏度

﹡ 专利的异相多谱勒频移(Heterodyne Doppler Frequency Shifts)技术,比较传统的多谱勒频 移分析方法,获得颗粒散射信号的强度高出几个数量级,提高分析结果的可靠性
﹡ 专利的可控参比方法(CRM, Controlled Reference Method),能精细分析多谱勒频移产生的能 谱,确保分析的灵敏度
﹡ 超短的颗粒在悬浮液中的散射光程设计,避免了多重散射现象,保证高浓度溶液中纳米颗粒测 试的准确性
﹡ 先进的“Y型”光纤光路系统,精确聚焦蓝宝石测量窗口,有效消除杂散光对检测器的负面影响
﹡ 专利的快速傅利叶变换算法(FFT,Fast Fourier Transform Algorithm Method),迅速处理检 测系统获得的光谱,缩短分析时间
﹡ 首家引进“非球形”颗粒概念对米氏理论计算的校正因素,内置常用分析物质光学数据库,提高颗粒粒度分布测试的准确性
﹡ 符合甚至部分超过ISO 13321 激光粒度分析国际标准-纳米分析部分
﹡ 符合甚至部分超过21 CFR PART 11 安全要求及FDA标准


产品参数

粒度范围:0.8纳米- 6.5微米
Zeta 电位测量:+/- 125mv
电泳迁移:+/- 0.4 μs/volt/cm
重复性:误差小于1%(标准颗粒)
测量原理:动态光背散射技术及米氏理论
专利技术:HDF,CRM,FFT,“Y”型光纤光路设计,“非球形”颗粒校正选项,微电场设计技术
检测角度:180º
浓度范围:0.1ppm – 40wt%
分析时间:30-120 秒
光源:3mW 780nm 半导体光纤
样品体积:0.2 - 5ml
操作软件:兼容Windows 98, 2000, NT, XP, Vista等
国际标准:ISO 13321
环境温度:10ºC to 35ºC
相对湿度:小于90%




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